IH2652 Analysmetoder och analysinstrument 7,5 hp
Methods and Instruments of Analysis
Kisel har länge varit the optimala materialet för elektronik. Tillverkningstekniken för integrerade kretsar i kisel har också använts för mikroelektromekaniska system (MEMS) där mekaniska delar, sensorer och elektronik integreras på ett gemensamt substrat av kisel. Med tillägget av en optisk modulator i kisel för höga hastigheter (över 1 GHz), kan kiseltekologin nu också konkurrera inom optiska kretsar.
Framstegen inom kiselteknologin har ställt stora krav på materialen som används i olika tillverkningssteg. Denna kurs har som syfte att ge studenterna en systematisk kunskap om olika analysmetoder och analysinstrument som används för materialkarakterisering och processkontroll. Studenterna får tillfälle att använda flera analysutrustningar tillgängliga vid institutionen för Mikroelektronik och Informationsteknik i Kista.
Utbildningsnivå
Avancerad nivåKursnivå (A-D)
DHuvudområde
Elektroteknik
Betygsskala
A, B, C, D, E, FX, F
Kurstillfällen/kursomgångar
VT13 TNTEM för programstuderande
Perioder
VT13 P3 (7,5 hp)
Anmälningskod
61152Kursen startar
2013 vecka: 2Kursen slutar
2013 vecka: 11Undervisningsspråk
EngelskaCampus
KTH KistaAntal föreläsningar
36 (preliminärt)Antal övningar
Undervisningstid
DagtidUndervisningsform
NormalAntal platser
Ingen begränsningSchema
Schema (nytt fönster)Kursansvarig
Henry H Radamson <rad@kth.se>
Del av program
VT14 SWB för programstuderande
Perioder
VT14 P3 (7,5 hp)
Anmälningskod
60174Kursen startar
2014 vecka: 4Kursen slutar
2014 vecka: 12Undervisningsspråk
EngelskaCampus
KTH KistaAntal föreläsningar
36 (preliminärt)Antal övningar
Undervisningstid
DagtidUndervisningsform
NormalAntal platser
Ingen begränsningSchema
Schema (nytt fönster)Kursansvarig
Henry H Radamson <rad@kth.se>
Målgrupp
Science Without Borders
VT14 TNTEM för programstuderande
Perioder
VT14 P3 (7,5 hp)
Anmälningskod
61055Kursen startar
2014 vecka: 4Kursen slutar
2014 vecka: 12Undervisningsspråk
EngelskaCampus
KTH KistaAntal föreläsningar
36 (preliminärt)Antal övningar
Undervisningstid
DagtidUndervisningsform
NormalAntal platser *
Min. 25*) Kurstillfället kan komma att ställas in om antalet antagna understiger minimiantalet platser.
Schema
Schema (nytt fönster)Kursansvarig
Henry H Radamson <rad@kth.se>
Lärare
Henry H Radamson <rad@kth.se>
Målgrupp
Obligatorisk för TNTEM1. Sökbar för TELFM, TTMVM och TTFYM spår TFYD och TFYC.
Del av program
Lärandemål
Efter slutförd kurs ska studenterna kunna
- identifiera material och processproblem;
- välja lämplig mätteknik;
- köra valda utrustningar;
- korrelera mätresultat som fåtts från olika metoder;
- analysera och tolka mätresultaten;
- rekommendera nya typer av analyser om det så behövs
Kursens huvudsakliga innehåll
Undervisningar täcker teorin och en del laborationer (*-markerade) för följande karakteriseieringtekniker:Röntgendiffraktion (XRD)*, atommikroskop (AFM), Rutherford bakåtspridningsanalys (RBS), Sekondärjonmasspektrometri (SIMS), Svep elektronmikroskopi (SEM)*, Transmission elektronmikroskopi (TEM), Fyrpunktsprob mätningar*, Hall-effektsmätningar*, Kapacitans-spänningsmätning (CV)*, Ström-spänningsmätning (IV)*.
Behörighet
Rekommenderade förkunskaper
Grundläggande fysik genom optik, termodynamik, electromagnetism, fasta tillståndets and fysikhalvledarfysik
Litteratur
Föreläsningsanteckningar blir utdelade under kursengång
Examination
- LAB1 - Laborationskurs, 2,5 hp, betygsskala: P, F
- TEN1 - Tentamen, 5,0 hp, betygsskala: A, B, C, D, E, FX, F
Krav för slutbetyg
Godkänd i alla laborationer (LAB1; 3 poäng) samt skriftliga tentamen (ANN1; 2 poäng).Tentamen består i allmänhet av 8 uppgifter och för godkänt krävs ungefär hälften av den maximala poängen. För godkända laborationer krävs ett aktivt deltagande i laborationsarbetet med lösning av laborationsuppgifterna och en tydlig och välstrukturerad laborationsrapport som redogör för laborationens utförande och resultat.Betygskala: A/B/C/D/E/Fx/F
Ges av
ICT/Integrerade komponenter och kretsar
Kontaktperson
Henry Radamson
Examinator
Anders Hallén <ahallen@kth.se>
Versionsinformation
Kursplan giltig från och med
HT08.
Examinationsinformation giltig från och med
HT07.
