IH2652 Analysmetoder och analysinstrument 7,5 hp

Methods and Instruments of Analysis

Kisel har länge varit the optimala materialet för elektronik. Tillverkningstekniken för integrerade kretsar i kisel har också använts för mikroelektromekaniska system (MEMS) där mekaniska delar, sensorer och elektronik integreras på ett gemensamt substrat av kisel. Med tillägget av en optisk modulator i kisel för höga hastigheter (över 1 GHz), kan kiseltekologin nu också konkurrera inom optiska kretsar.

Framstegen inom kiselteknologin har ställt stora krav på materialen som används i olika tillverkningssteg. Denna kurs har som syfte att ge studenterna en systematisk kunskap om olika analysmetoder och analysinstrument som används för materialkarakterisering och processkontroll. Studenterna får tillfälle att använda flera analysutrustningar tillgängliga vid institutionen för Mikroelektronik och Informationsteknik i Kista.

  • Utbildningsnivå

    Avancerad nivå
  • Kursnivå (A-D)

    D
  • Huvudområde

    Elektroteknik
  • Betygsskala

    A, B, C, D, E, FX, F

Kurstillfällen/kursomgångar

VT13 TNTEM för programstuderande

VT14 SWB för programstuderande

  • Perioder

    VT14 P3 (7,5 hp)
  • Anmälningskod

    60174
  • Kursen startar

    2014 vecka: 4
  • Kursen slutar

    2014 vecka: 12
  • Undervisningsspråk

    Engelska
  • Campus

    KTH Kista
  • Antal föreläsningar

    36 (preliminärt)
  • Antal övningar

  • Undervisningstid

    Dagtid
  • Undervisningsform

    Normal
  • Antal platser

    Ingen begränsning
  • Schema

    Schema (nytt fönster)
  • Kursansvarig

    Henry H Radamson <rad@kth.se>
  • Målgrupp

    Science Without Borders

VT14 TNTEM för programstuderande

  • Perioder

    VT14 P3 (7,5 hp)
  • Anmälningskod

    61055
  • Kursen startar

    2014 vecka: 4
  • Kursen slutar

    2014 vecka: 12
  • Undervisningsspråk

    Engelska
  • Campus

    KTH Kista
  • Antal föreläsningar

    36 (preliminärt)
  • Antal övningar

  • Undervisningstid

    Dagtid
  • Undervisningsform

    Normal
  • Antal platser *

    Min. 25

    *) Kurstillfället kan komma att ställas in om antalet antagna understiger minimiantalet platser.

  • Schema

    Schema (nytt fönster)
  • Kursansvarig

    Henry H Radamson <rad@kth.se>
  • Lärare

    Henry H Radamson <rad@kth.se>
  • Målgrupp

    Obligatorisk för TNTEM1. Sökbar för TELFM, TTMVM och TTFYM spår TFYD och TFYC.

  • Del av program

Lärandemål

Efter slutförd kurs ska studenterna kunna

  • identifiera material och processproblem;
  • välja lämplig mätteknik;
  • köra valda utrustningar;
  • korrelera mätresultat som fåtts från olika metoder;
  • analysera och tolka mätresultaten;
  • rekommendera nya typer av analyser om det så behövs

Kursens huvudsakliga innehåll

Undervisningar täcker teorin och en del laborationer (*-markerade) för följande karakteriseieringtekniker:Röntgendiffraktion (XRD)*, atommikroskop (AFM), Rutherford bakåtspridningsanalys (RBS), Sekondärjonmasspektrometri (SIMS), Svep elektronmikroskopi (SEM)*, Transmission elektronmikroskopi (TEM), Fyrpunktsprob mätningar*, Hall-effektsmätningar*, Kapacitans-spänningsmätning (CV)*, Ström-spänningsmätning (IV)*.

Behörighet

Rekommenderade förkunskaper

Grundläggande fysik genom optik, termodynamik, electromagnetism, fasta tillståndets and fysikhalvledarfysik

Litteratur

Föreläsningsanteckningar blir utdelade under kursengång

Examination

  • LAB1 - Laborationskurs, 2,5 hp, betygsskala: P, F
  • TEN1 - Tentamen, 5,0 hp, betygsskala: A, B, C, D, E, FX, F

Krav för slutbetyg

Godkänd i alla laborationer (LAB1; 3 poäng) samt skriftliga tentamen (ANN1; 2 poäng).Tentamen består i allmänhet av 8 uppgifter och för godkänt krävs ungefär hälften av den maximala poängen. För godkända laborationer krävs ett aktivt deltagande i laborationsarbetet med lösning av laborationsuppgifterna och en tydlig och välstrukturerad laborationsrapport som redogör för laborationens utförande och resultat.Betygskala: A/B/C/D/E/Fx/F

Ges av

ICT/Integrerade komponenter och kretsar

Kontaktperson

Henry Radamson

Examinator

Anders Hallén <ahallen@kth.se>

Versionsinformation

Kursplan giltig från och med HT08.
Examinationsinformation giltig från och med HT07.