In English

IM3002 Avancerade ämnen i materialvetenskap 6,0 hp

Advanced Topics in Materials Science

OBS!

Detta är en nedlagd kurs.

Kursen är baserad på öppen litteratur och nedanstående läroböcker där kursdeltagarna efterfrågas mycket aktiva deltagande. Kursen bedrivs på ett seminarium form, med diskussion och analys av hur topografiska, morfologiska, sammansättning och kristallografiska information som härleds med hjälp av svep och transmission elektron mikroskop . 

Det kommer att finnassexdemosessioner påtreelektronmikroskop(TEM,SEM ochFIB-SEM)under ledning avEMexperter,för att demonstreraen effektiv användning avde teknikerför generering avönskad informationfrån en mängd olikaprover.

  • Utbildningsnivå

    Forskarnivå

  • Huvudområde

  • Betygsskala

Sista planerade examination: VT21.

Information för forskarstuderande om när kursen ges

Kursenkommer att erbjudasnär det finnsmer än 8deltagande.

Lärandemål

Grundläggande förståelse av

  • energirika elektroner växelverkan med materia
  • primära och sekundära signalkällor och nyttan av sådana interaktioner
  • kvalitativa och kvantitativa analysmetoder i samband med interaktion
  • grundläggande fysik av interaktion
  • sambanden mellan transmission, diffraktion, absorption och reflektion fenomenen

Kursens huvudsakliga innehåll

Kursen är baserad på öppen litteratur och nedanstående läroböcker därkursdeltagarna efterfrågas mycket aktiva deltagande. Kursen bedrivs på ettseminarium form, med diskussion och analys av hur topografiska, morfologiska,sammansättning och kristallografiska information som härleds med hjälp svep och transmission elektron mikroskop . 

Kursupplägg

Kursenplaneras iform avseminariemoduler.Studenternakommer att göraseminarierunder kursens gångoch det ärobligatorisktatt närvara vid allaseminariehändelser underden aktiva periodenav kursen.

Behörighet

Litteratur

Utvalda forskningsartiklar och följande böcker

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis.              Joseph I. Goldstein etl.     1992

Electron Backscatter Diffraction in Materials Science.                   Adam J. Schwartz etl.        2000

Electron Energy Loss Spectroscopy     Rik Brydson 2006

Electron Crystallography  Xiaodong Zou etl.              2011

Examination

Ges av

SCI/Tillämpad fysik

Kontaktperson

Joydeep Dutta

Examinator

Joydeep Dutta <joydeep@kth.se>

Versionsinformation

Kursplan gäller från och med VT2011.