Hoppa till huvudinnehållet

FIH3603 Elektrisk karakterisering av halvledare 7,5 hp

Kursomgångar saknas för aktuella eller kommande terminer.
Rubriker med innehåll från kursplan FIH3603 (VT 2019–) är markerade med en asterisk ( )

Innehåll och lärandemål

Kursinnehåll

Lågnivåmätningar av ström, spänning och impedans för nanoelektronikkomponenter.

Grundläggande kretsdesign och användning av mätinstrument specifikt för halvledare, såsom source-measure enheter, nanovoltmetrar, picoamperemetrar och impedansmetrar.

Skärmning och fyrpunktstekniker, inklusive force-sense konfigurering, kalibrering och "de-embedding".

Yield (utbyte) och tillförlitlighetsmätningar och "figure-of-merits".

Statistiska begränsningar och experimentdesign.

Avancerade mätinstrument för högfrekvens, högeffekt och kretsutvärdering.

Kretsutvärdering inklusive ESD skydd och handhavande.

Lärandemål

Efter kursen ska studenterna ha avancerade och tillämpbara kunskaper mätinstrument specifikt för halvledarkomponenter samt lågnivåmätningar i allmänhet. Studenterna ska vara bekanta med mätinstrument för högfrekvens, högeffekt (spänning/ström) and kretsutvärdering.

De ska självständigt kunna utföra relevanta mätningar på avancerade nanoelektronikkomponenter and kretsprototyper.

Studenterna ska kunna använda kalibrerings- och "deembedding-" metoder in sin experimentdesign och i analysen av mätdata.

Studenterna ska vara bekanta med användningen av elektriska karakteriseringsmetoder inom yield (utbyte) och tillförlitlighet speciellt ur ett industriellt perspektiv.

Studenterna ska kunna ta hänsyn till statistiska begränsningar i sina val av karakteriserings-instrument och rutiner.

Kurslitteratur och förberedelser

Särskild behörighet

Endast doktorandnivå

Rekommenderade förkunskaper

Halvledarkomponenter och halvledarfysik krävs alternativt en allmän kurs inom nanoelektronik (avancerad nivå rekommenderas). Kunskap och förmåga att tillämpa analog kretsanalys inklusive operationsförstärkare, minst grundläggande nivå. Kunskaper i processteknologi för halvledarkomponenter krävs på grundläggande nivå.

Utrustning

Ingen information tillagd

Kurslitteratur

Ingen information tillagd

Examination och slutförande

När kurs inte längre ges har student möjlighet att examineras under ytterligare två läsår.

Betygsskala

P, F

Examination

  • EXA1 - Examination, 7,5 hp, betygsskala: P, F

Examinator beslutar, baserat på rekommendation från KTH:s handläggare av stöd till studenter med funktionsnedsättning, om eventuell anpassad examination för studenter med dokumenterad, varaktig funktionsnedsättning.

Examinator får medge annan examinationsform vid omexamination av enstaka studenter.

Laborativa moment i grupp. Individuell seminarieuppgift för muntlig presentation och ett slutprojekt med skriftlig rapport.

Övriga krav för slutbetyg

Laborativa moment i grupp. Individuell seminarieuppgift för muntlig presentation och ett slutprojekt med skriftlig rapport.

Möjlighet till komplettering

Ingen information tillagd

Möjlighet till plussning

Ingen information tillagd

Examinator

Etiskt förhållningssätt

  • Vid grupparbete har alla i gruppen ansvar för gruppens arbete.
  • Vid examination ska varje student ärligt redovisa hjälp som erhållits och källor som använts.
  • Vid muntlig examination ska varje student kunna redogöra för hela uppgiften och hela lösningen.

Ytterligare information

Kursrum i Canvas

Registrerade studenter hittar information för genomförande av kursen i kursrummet i Canvas. En länk till kursrummet finns under fliken Studier i Personliga menyn vid kursstart.

Ges av

Huvudområde

Denna kurs tillhör inget huvudområde.

Utbildningsnivå

Forskarnivå

Påbyggnad

Ingen information tillagd

Kontaktperson

Gunnar Malm (gunta@kth.se)

Forskarkurs

Forskarkurser på EECS/Elektronik och inbyggda system