FSK3881 Avancerade ämnen i materialvetenskap 6,0 hp

Kursen är baserad på öppen litteratur och nedanstående läroböcker. Den bedrivs i form av seminarium, där kursdeltagarna förväntas delta aktivt, med diskussion och analys om topografiska, morfologiska, sammansättning och kristallografiska information som härleds med hjälp av svep och transmission elektron mikroskop.

Grundläggande förståelse av:

• energirika elektroner växelverkan med materia
• primära och sekundära signalkällor och nyttan av sådana interaktioner
• kvalitativa och kvantitativa analysmetoder i samband med interaktion
• grundläggande fysik av interaktion
• sambanden mellan transmission, diffraktion, absorption och reflektion fenomenen

Inskriven som forskarstuderande.

Utvalda forskningsartiklar och följande böcker
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Joseph I. Goldstein etl. 1992
Electron Backscatter Diffraction in Materials Science. Adam J. Schwartz etl. 2000
Electron Energy Loss Spectroscopy Rik Brydson 2006
Electron Crystallography Xiaodong Zou etl. 2011

• SEM1 - Seminarier, 6,0 hp, betygsskala: G

Examinator beslutar, baserat på rekommendation från KTH:s handläggare av stöd till studenter med funktionsnedsättning, om eventuell anpassad examination för studenter med dokumenterad, varaktig funktionsnedsättning.

Examinator får medge annan examinationsform vid omexamination av enstaka studenter.

När kurs inte längre ges har student möjlighet att examineras under ytterligare två läsår.

SEM1: presentation / föreläsning i en av seminarierna, 6,0 hp, betygsskala: P/F

Deltagande till alla (75%) seminarier. Studenterna kommer att ge ett seminarium i slutet av kursen om specifikt relaterat ämne.

• Vid grupparbete har alla i gruppen ansvar för gruppens arbete.
• Vid examination ska varje student ärligt redovisa hjälp som erhållits och källor som använts.
• Vid muntlig examination ska varje student kunna redogöra för hela uppgiften och hela lösningen.