Hoppa till huvudinnehållet

FIH3606 Materialkarakterisering för elektronik och fotonik 10,5 hp

Välj termin och kursomgång

Välj termin och kursomgång för att se aktuell information och mer om kursen, såsom kursplan, studieperiod och anmälningsinformation.

Kursval

Gäller för kursomgång

HT 2023 Start 2023-10-30 programstuderande

Anmälningskod

51417

Rubriker med innehåll från kursplan FIH3606 (VT 2019–) är markerade med en asterisk ( )

Innehåll och lärandemål

Kursinnehåll

Föreläsningarna behandlar teori och grundläggande principer för ett antal vanliga karakteriseringstekniker, såsom: röntgendiffraktion (XRD), atomkraftsmikroskop (AFM), Rutherfordsk jonspridning (RBS), masspektroskopi av sekundära joner (SIMS), svepelektronspektroskopi (SEM), transmissionselektronmikroskopi (TEM), fyrpunktsprobning av resistivitet, Hall-mättning och fotoluminescens (PL). En stor del av kursen ägnas å experimentellt arbete med ett antal av avdelningens mätutrustningar.

Lärandemål

Kursen ger inblick i grundläggande strukturella , elektriska och optiska tekniker för karakterisering av halvledarmaterial för elektronik- och fotoniktillämpningar. Efter genomgången kurs ska eleverna:

  • kunna välja lämplig mätteknik med korrekt känslighet och upplösning.
  • ha tillräckliga praktiska kunskaper för att själva kunna använda de instrument som ingår i laborationerna.
  • ha god förmåga att analysera, tolka och värdera spektra och mätdata från de metoder som ingår i kursen.
  • kunna korrelera resultat och dra generella slutsatser om prov som mätts med olika tekniker.
  • ha uppnått en tillräcklig kompetensnivå inom en mätteknik för att självständigt kunna presentera egna mätdata i vetenskapliga tidskrifter.

Kurslitteratur och förberedelser

Särskild behörighet

Grundläggande kunskaper i optik, elektromagnetism, fasta tillståndets fysik och halvledarfysik.

Rekommenderade förkunskaper

Grundläggande fysik och kemikurser på högskolenivå

Utrustning

Ingen information tillagd

Kurslitteratur

Ingen information tillagd

Examination och slutförande

När kurs inte längre ges har student möjlighet att examineras under ytterligare två läsår.

Betygsskala

P, F

Examination

  • EXA1 - Examination, 10,5 hp, betygsskala: P, F

Examinator beslutar, baserat på rekommendation från KTH:s handläggare av stöd till studenter med funktionsnedsättning, om eventuell anpassad examination för studenter med dokumenterad, varaktig funktionsnedsättning.

Examinator får medge annan examinationsform vid omexamination av enstaka studenter.

Betygsskala: P/F

Övriga krav för slutbetyg

För godkänt (P) krävs:

  • godkänt på laborationerna.
  • godkänt på muntlig examination av individuella projekt.
  • muntlig presentation av principer och mätresultat från en utvald teknik.

Undervisningsspråk: Engelska

Möjlighet till komplettering

Ingen information tillagd

Möjlighet till plussning

Ingen information tillagd

Examinator

Etiskt förhållningssätt

  • Vid grupparbete har alla i gruppen ansvar för gruppens arbete.
  • Vid examination ska varje student ärligt redovisa hjälp som erhållits och källor som använts.
  • Vid muntlig examination ska varje student kunna redogöra för hela uppgiften och hela lösningen.

Ytterligare information

Kursrum i Canvas

Registrerade studenter hittar information för genomförande av kursen i kursrummet i Canvas. En länk till kursrummet finns under fliken Studier i Personliga menyn vid kursstart.

Ges av

Huvudområde

Denna kurs tillhör inget huvudområde.

Utbildningsnivå

Forskarnivå

Påbyggnad

nej

Forskarkurs

Forskarkurser på EECS/Elektronik och inbyggda system