Du är inte inloggad på KTH så innehållet är inte anpassat efter dina val.
Kurswebben har varit stängt för redigering sedan första juni 2025 och kommer stängas ned helt första oktober 2026. Utifrån hur kurswebben har använts finns det några olika alternativ för ersättare:
Är du intresserad av mer information om detta, kontakta e-learning@kth.se.
Advanced materials analysis is of crucial importance for an increasing amount of high-tech applications based on control and understanding of material properties down to the atomic scale. This includes structural, optical, electrical, and other physical properties and often requires a plethora of different and complementary methods for a full analysis and understanding.
This course aims to give an overview of a range of analytical methods and instruments of particular importance for applied materials research and nanotechnology. These include ion beam-based methods, electron microscopies, scanning probe microscopy, X-ray diffraction, electric and optical methods, as well as electron and photon spectroscopies. Extensive laboratory exercises provide the students with the opportunity to hands-on test various analytical tools that are available at the ICT School research departments.