Till innehåll på sidan

Study of the Back-to-Back Test Method for Embedded Systems in Hardware-Software Integration Context

Shangning Wang presenterar sitt examensarbete. Välkomna!

Tid: On 2013-11-13 kl 14.00

Plats: KTH Campus, Maskinkonstruktion, Brinellvägen 83, rum B242

Föreläsare: Shangning Wang

Titel på arbetet: Study of the Back-to-Back Test Method for Embedded Systems in Hardware-Software Integration Context