Institutionen för Elkraftteknik
Forskningen och utbildningen vid institutionen för elkraftteknik täcker områden som elmarknader, förnybar elproduktion och dess integration i systemet, kraftsystemdynamik, drift och styrning, kraftelektronik och dess tillämpning i nätet, elektriska enheter och maskiner och deras tillämpningar inom eltransport samt fjädrande kommunikations- och styrsystem.
Forskningsområden
Nyheter och event
-
Prestigefyllt IEEE-pris till docent vid EECS22 okt 2025
-
Seminarier och föreläsningar
fredag 2026-01-30, 11.00 - 12.00
Plats: Sten Velander, Teknikringen 33
Videolänk: https://kth-se.zoom.us/j/68526269198
2026-01-30T11:00:00.000+01:00 2026-01-30T12:00:00.000+01:00 (30% seminar) Mechanical Parameter Identification in Electric Drive Systems (Seminarier och föreläsningar) Sten Velander, Teknikringen 33 (KTH, Stockholm, Sweden)(30% seminar) Mechanical Parameter Identification in Electric Drive Systems (Seminarier och föreläsningar) -
Konferenser och workshops
torsdag 2026-02-05, 12.00 - 17.00
Plats: Teknikringen 33 - H1 and kitchen
2026-02-05T12:00:00.000+01:00 2026-02-05T17:00:00.000+01:00 Kick-off (Konferenser och workshops) Teknikringen 33 - H1 and kitchen (KTH, Stockholm, Sweden)Kick-off (Konferenser och workshops) -
Seminarier och föreläsningar
måndag 2026-02-09, 10.00 - 11.00
Videolänk: https://kth-se.zoom.us/j/61114728587
2026-02-09T10:00:00.000+01:00 2026-02-09T11:00:00.000+01:00 IEEE and Dig-it Lab Seminar on "Smart Grid Cyber Security, Modelling and Mitigation" (Seminarier och föreläsningar) IEEE and Dig-it Lab Seminar on "Smart Grid Cyber Security, Modelling and Mitigation" (Seminarier och föreläsningar) -
Disputationer
fredag 2026-02-20, 10.00
Plats: Kollegiesalen, Brinellvägen 8, Stockholm
Videolänk: https://kth-se.zoom.us/j/63066113234
Respondent: Bhanu Pratap Singh , Elkraftteknik
2026-02-20T10:00:00.000+01:00 2026-02-20T10:00:00.000+01:00 Reliability Assessment and Health Diagnostic Methods for SiC MOSFET Devices (Disputationer) Kollegiesalen, Brinellvägen 8, Stockholm (KTH, Stockholm, Sweden)Reliability Assessment and Health Diagnostic Methods for SiC MOSFET Devices (Disputationer)